FIS4-HR高分辨率波前传感器——工业光学检测的“精密尺”

一片光学镜片、一块精密窗口、一套成像镜头，其质量好坏往往取决于表面纳米级的起伏。如何在车间现场快速、稳定地检测这些微小形变？今天，我们看看FIS4系列波前传感器如何让高精度干涉测量走出实验室，落地生产线。

车间现场的波前检测，为何这么难？

在光学元件制造、镜头装配、窗口片质检中，波前畸变直接决定***终产品的成像质量与性能。但传统检测方式长期面临三大“拦路虎”：

❌  依赖参考镜：泰曼‑格林、斐索干涉仪需要高精度参考面，参考镜自身的面形误差会叠加到测量结果中。

❌  环境要求苛刻：必须放置在隔振光学平台上，还要恒温恒湿，工厂车间根本无法使用。

❌  调节繁琐、速度慢：需要移相过程和多步对准，无法实现在线实时检测。

对于白光、LED照明的工业场景（如车窗玻璃畸变、光学平面面形、表面粗糙度），传统方法既昂贵又不切实际。

FIS4-HR：不用参考镜、不怕振动，即插即测

FIS4-HR高分辨率波前传感器基于四波横向剪切干涉原理，采用国产自研的随机编码混合光栅（REHG），实现单束光的自干涉。简单来说：待测波前通过特制的数字光栅，在x 和y 方向各分裂成两束，四束光重叠处产生稳定的二维网格干涉条纹。解调条纹，就能得到PV、RMS等波前信息。

参数一览：

相对于微透镜阵列哈特曼传感器具有更多高分辨相位点、适应波段范围更宽、动态范围更大、更优性价比。

三大场景，覆盖工业光学检测核心需求

场景①：光学平面/ 球面面形测量

实时检测光学元件表面，输出三维面形图、等高图、PV/RMS值。无需搬运到实验室，装配车间即可完成终检。

场景②：光学窗口片畸变检测

工业级高清监控、车载镜头、红外窗口等玻璃元件的微小畸变，会导致成像模糊或几何失真。FIS4-HR快速捕捉透射波前变化，帮助产线及时剔除不良品。

场景③：表面粗糙度与微观轮廓

搭配显微物镜，FIS4-HR变身白光轮廓仪，可测量精密加工表面的粗糙度、台阶高度、刻线深度。非接触、不损伤样品，测完即用。

国产自研，用实力说话

FIS4系列波前传感器由浙江大学杨甬英教授领衔的研发团队倾力开发，拥有完全自主知识产权。

✅ 国产自研 – 核心光栅设计、加工、算法全部自主可控，无出口管制风险。

✅ 无需隔振 – 极强的抗振性能，适应于现场及工厂环境的高精度检测。

✅ 实时输出 –10 Hz 全分辨率3D 结果显示，动态观察波前变化。

✅ 傻瓜式操作 – 配套专业软件，一键采集、自动解调，无需移相过程。

✅ 轻巧便携 – 即插即用，可集成于光学系统或手持设备，灵活部署。